|
М.А.Порай-Кошиц Основы структурного анализа химических соединений
| | Оглавление
Предисловие.
Глава I. Основные понятия и элементы структурной криссталлографии.
А. Описание решетки кристалла
§1. Группа трансляций — решетка кристалла.
§2. Индексы узлов узловых рядов и узловых сеток решетки кристалла
§3. Обратная решетка. Пространственные группы симметрии.
§4. Обозначения элементов симметрии конечных фигур принятые в структурной кристаллографии
§5. Закрытые и открытые операции симметрии
§6. Точечные и пространственные группы симметрии.
§7. Взаимодействие трансляций и других операций симметрии
§8. Классификационная схема пространственных групп симметрии.
§9. Классы симметрии сингонии и категории
§10. Координатные системы и метрика решеток
§11. Типы решеток Бравэ
§12. Графическое изображение пространственных групп симметрии
§13. Обозначения пространственных групп симметрии
§14. Правильные системы точек
Глава II. Дифракция рентгеновских лучей в кристалле.
§1. Физическая основа рентгеноструктурного анализа
§2. Параметры рентгеновских волн; рассеяние рентгеновских лучей.
§3. Задачи решаемые в ходе рентгеноструктурного анализа кристаллов.
§4. Условия Лауэ
§5. Методы получения дифракционного эффекта
§6. Другие способы представления дифракционного эффекта. Индицирование рентгенограмм.
§7. Области применения трех методов получения дифракционного эффекта
§8. Фотографическая и дифрактометрическая аппаратура рентгеноструктурного анализа монокристаллов
§9. Автоматизация рентгеноструктурного эксперимента
§10. Методы ускорения дифрактометрического эксперимента
§11. История развития методики и техники структурных исследований кристаллов.
Глава III. Первый этап анализа структуры. Определение параметров решетки и симметрии кристалла
§1. Параметры решетки и число формульных единиц в ячейке
§2. Симметрия кристалла
Глава IV. Второй этап анализа структуры. Определение координат атомов в элементарной ячейке кристалла
§1. Факторы влияющие на интенсивность дифракционных лучей
§2. Структурная амплитуда и координаты атомов.
§3. Структурные амплитуды и распределение электронной плотности по ячейке.
§4. Учет симметрии в формулах структурной амплитуды и электронной плотности.
§5. Проблема начальных фаз.
§6. Общая схема второго этапа анализа структуры.
§7. Метод межатомной функции.
§8. Статистический (прямой) метод определения начальных фаз.
§9. Метод минимизации структурного функционала.
§10. Уточнение координатных и других параметров структуры
§11. Обработка результатов исследования.
§12. Автоматизация рентгеноструктурных расчетов.
Глава V. Сравнительные возможности и перспективы дифракционных методов исследования. Задачи рентгеноструктурного анализа в химии.
§1. Сравнительные возможности рентгеноструктурного анализа нейтронографии и электронографии кристаллов
§2. Сравнительные возможности дифракционных методов изучения структуры кристаллов и веществ в других агрегатных состояниях.
§3. Основные задачи рентгеноструктурного анализа в химии
§4. Новые задачи рентгеноструктурного анализа в физической химии.
Заключение
|
|
| |
|
| |
|
|
Найдите то что искали здесь:
|
|
| |
